Leica EM TXP徠卡精研一體機 是一款可對目標區域進行精.確定位的表面處理工具，特別適合于SEM, TEM及LM觀察之前對樣品進行切割、拋光等系列處理。它尤其適合于制備高難度樣品，如需要對目標...

徠卡三離子束切割儀： Leica EM TIC 3X 是一款*的三離子束切割儀，可對軟硬復合型或應力敏感型材料樣品進行離子束轟擊，獲得樣品截面，便于SEM觀察樣品內部結構信息及分析。

徠卡超薄切片機 徠卡顯微系統為用戶帶來全新的樣品制備技術:Leica EM UC Enuity 新一代超薄切片機，這款超薄切片機可以進行半薄和超薄切片，為光學顯微鏡，透射電子顯微鏡，掃描電子顯微鏡和原...

徠卡高真空鍍膜儀是一款多功能型高 真空鍍膜系統，用于制備超薄，細顆粒的導電金屬膜和碳膜，以適用于FE-SEM和TEM超高分辨率分析所需的鍍膜要求。這一款全自動臺式鍍膜儀，包含內置式無油真空系統石英膜厚...

TedPella 夾鋁層雙面碳導電膠帶5mm/8mm為夾鋁層雙面碳導電膠帶，兩碳層中間有一層約30um厚度的鋁箔導電層，增加導電性，同時可消除SEM成像中的背底噪音。

TedPella FIB載網Omniprobe 三齒鉬網，載網上的齒針可為樣品提供良好的支撐，下面的編號在TEM中可準確定位樣品

Omniprobe FIB全鎢取樣針：FIB專用探針，此為全鎢探針，針柄和針尖都為鎢，針尖最大使用壽命內規格為＜0.5um，10-13°錐角，針柄直徑為0.508mm，針柄長度為34.036...

FIB載網Omniprobe 四齒鉬網：Omniprobe 載網專用于FIB，載網上的齒針可為樣品提供良好的支撐，下面的編號在TEM中可準確定位樣品。此載網材質為鉬，含有4個齒針兩個V型和兩個直線型，...

FIB載網Omniprobe 四齒銅網：Omniprobe 載網專用于FIB，載網上的齒針可為樣品提供良好的支撐，下面的編號在TEM中可準確定位樣品。此載網材質為銅，含有4個齒針兩個V型和兩個直線型，...

FIB載網Omniprobe 三齒銅網：Omniprobe 載網專用于FIB，載網上的齒針可為樣品提供良好的支撐，下面的編號在TEM中可準確定位樣品。此載網材質為銅，含有3個齒針兩個V型和一個直線型，...

Zeiss蔡司SEM掃描電鏡鎢燈絲 10個/盒，有以下兩種規格：貨號【AGA054】：燈絲直徑 0.12mm，10個/盒；貨號【AGA054L】：燈絲直徑 0.15mm，10個/盒。

Leica EM KMR3 為電鏡和光鏡切片提供優質的玻璃刀 ，采用平衡斷裂法，確保制備出優質的玻璃刀，有三種規格玻璃條可供選擇：6.4mm，8mm，10mm。